DA14585基本工具包上的热U3和U6
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在DA14585基本工具包中，当通过U3 LDO将电源设置为来自USB的3v3并按下reset按钮时，U3和U6都会变得非常热。这是由于短路输出的U6到电力轨道(因此U3)。需要一些隔离，像二极管保护U6的输出。
第一个DA14585和DA14683示例现在在线!
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查看我们最新的DA14585和DA14683家族的简单使用示例参考设计和软件示例标签-更多来!
SDK6.0.8现在为DA14585/6发布了!
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SDK6.0.8中支持DA14585/DA14586的一些很棒的新特性!
1.禁用DC-DC自动校准(Buck和Boost模式)。
2.增加38K4波特率支持在生产测试f/w。
3.增加了对URI广告数据类型的支持。
4. GATT服务层增加支持改变到应用层特性。
5.增加支持禁用ROM ECC密钥生成计算，如果安全连接功能没有使用。
6.增加了Boost模式的支持。
7.当XTAL16M未校准时，使用默认的XTAL16M修剪值。
对话框串口服务DA14585现在可用!
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dsp现在包括对DA14585的支持。看看下面可以实现的吞吐量!
为DA14585/6家族发布的SDK6.0.6 !
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现在发布了针对DA14585/6家族的SDK 6.0.6 !添加了一些功能和bug修复:
请点击下面的链接查看完整的更改和改进/ bug修复列表……
https://support.dialog-semiconductor.com/system/files/restricted/DA14585..。
校准
嗨
如果我根据你的参考设计，在DA14585的基础上做我自己的模块，那么在生产的时候，我需要做任何的模块校准吗?
如果是，你有描述必须做什么的文件吗?
对于BT SIG，当我使用芯片和你的参考设计时，我需要重新设计一个认证吗?或者我可以只是中继或者你已经完成的芯片认证吗?
Br埃里克
聪明的人很慢
亲爱的对话框支持,
我经常不得不使用UART来编程我们的DA14585。我使用了来自DA14583物联网传感器的CIB，目前使用的是Smart Snippets 5.0.12。
当我编写一个新的二进制文件时，我点击“刻录并验证”，程序如下:
spi闪光烧伤失败
我使用工具箱5.10刻录工具来刻录外部闪存，但有时效果不太好，有时会出现连接异常和刻录失败。
我使用jtag连接到我的产品板进行燃烧。目前测试中有两种错误，一种是芯片连接失败，另一种是闪存操作失败。
你知道问题出在哪里吗?谢谢你！
当adc电压大于1.2V时，返回1023
我知道p01引脚adc输入比例是0~1.2V，但是当我尝试输入超过1.2V的电压时，我想要得到adc值(adc_get_sample())是1023，但结果不是。它是一个不规则的数字，像800或其他。
uint32_t adc_sample;
adc_init (GP_ADC_SE GP_ADC_SIGN 0);
adc_usDelay (20);
adc_enable_channel (ADC_CHANNEL_P01);
adc_sample = adc_get_sample（）;
adc_disable ();
返回adc_sample;
CFG_DEVELOPMENT_DEBUG設定廣播時的電流變化
您好
在準備出貨時將CFG_DEVELOPMENT_DEBUG做了設定,發現電流產生有了變化。
#定义CFG_DEVELOPMENT_DEBUG廣播時量測到的電流
最小約20 ua最大約250 ua,平均約40 ua
# undef CFG_DEVELOPMENT_DEBUG量測廣播時的電流
400年最小約ua最大約1800 ua,平均約800 ua
原本有#定义CFG_WDOG將其# undef後量測的電流並不會有太大差異。
睡眠的設定是ARCH_EXT_SLEEP_ON;
程式是寫在外掛Flash上,有外掛32.768 khz晶体。
請問這各電流的變化是正確的嗎？
是否是哪裡設定有問題或缺少，導致電流增加那麼多嗎？
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