测试模式下的脏数据包测量

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周三，2016-10-19 23:32
＃1
luke.liu@litepo ...
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测试模式下的脏数据包测量

我在测试模式下使用14580devkit和固件Full_emb_583.bin。脏分组测量似乎在附加的高水平（-70dBm）处具有地板（〜8％）。每种规格都不会发生。我已经在两个对话号上看到了这一点。你有一个较新的固件版本吗？

卢基

附件：
PDF图标每楼.PDF.
设备：
DA14580
星期四，2016-10-20 16:57
mt_dialog.
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加入：2015-06-08 11:34
嗨luke，

嗨luke，

Full_emb_58x.hex文件来自Proximity Reporter源代码，如果您希望更新的FW执行一些测试，则可以从SDK5.0.4中编译和使用Proximity_。

谢谢mt_dialog.

星期四，2016-10-20 18:42
luke.liu@litepo ...
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我尝试了5.0.4和

我尝试了5.0.4，结果是一样的。您可以将它转发到您的设计团队或您有联系信息吗？

卢基

Fri，2016-10-21 16:17
mt_dialog.
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嗨luke，

嗨luke，

我正在使用硬件和RF团队检查，我们会在使用LitePoint测试仪执行测试后立即让您知道，到目前为止我们还没有看到任何问题。

谢谢mt_dialog.

Fri，2016-10-21 17:56
luke.liu@litepo ...
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加入：2015-07-06 22:15
谢谢。只是你知道我们

谢谢。只要你知道我们在其他芯片供应商上做了同样的测试，并且不要观察同样的问题。我还附上了设备的图片，以便您可以检查硬件版本。

附件：
包图标dialog_dut_litepoint.zip.
星期四，2016-10-27 08:07
mt_dialog.
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嗨luke，

嗨luke，

我们通过电子邮件直接联系您。

谢谢mt_dialog.