想知道的建议ADC配置正确，稳定的直流测量与SDK 3.0.8.0
根据我目前的配置看起来像这样在“UM-B-004 DA14580_581外围Drivers_v1.4.pdf”提供的信息和“DA14580_DS_v3.1.pdf”：
adc_calibrate ()
adc_init（GP_ADC_SE | GP_ADC_CHOP，ADC_POLARITY_UNSIGNED，0 / *没有GP_ADC_ATTN3X * /）
adc_enable_channel（ADC_CHANNEL_P00）
adc_get_sample（）
adc_disable（）
纵观adc_get_vbat_sample（）它的接缝：
1. GP_ADC_CHOP使用不是优选的，虽然在“DA14580_DS_v3.1.pdf”强烈推荐，和具有相反GP_ADC_SIGN代替两个样本被用于
2.一个20微秒的延迟是adc_init后使用权（），其与特性“表293”，从“DA14580_DS_v3.1.pdf”（注描述的定时映射：adc_int后相同的20微秒的延迟被使用（）在adc_calibrate（））。
1.adc_init()之后需要20微秒的延迟吗?
2.考虑到adc_int()设置了GP_ADC_DELAY_EN，是否/应该通过GP_ADC_DELAY_REG和GP_ADC_DELAY2_REG来控制必要的延迟?
3.是否有更多可用信息有关ADC相关寄存器的内部运作？
设备：
嗨Icujba，如果你不使用衰减不需要延迟。随着衰减（在需要的情况下，你打算测量电压> 1.2V），你应该添加一些延迟，以允许收取的内部帽。这应该是更4US的范围。有关于ADC的内部工作然而，这不是可用pubicly更多信息。你有没有一些具体的问题吗？
最好的问候,RvA
嗨RvA,
感谢你的回复。我将使用推荐的延迟为“与衰减”的场景。
最好的问候，约努茨
你好，
我有非常简单的代码，我没有得到来自ADC一致的结果（至少低4位应丢弃，因此有效分辨率为6位，你必须作出这样也battery.c）和看起来像ADC有也相当巨大的偏移误差和校准并没有帮助。偏移误差是主要的问题，特别是在较低的电压...
我的测试设置是非常简单的：external_power ---> 100K欧姆的电阻--->输入引脚（配置为PID_ADC）。代码使用你的例子为的就是让ADC的功能已不被修改（除了在最后阶段加入CHOP位）
如果（u16ADC> u16Max）{u16Max = u16ADC;}
UINT16 u16ADC = 0U;
uint16 i = 1000U;
UINT16 u16Min = 0xFFFFU;
UINT16 u16Max = 0U;
DBG_PRINT("\n\rADC att 1x, calib before meas, 1000x single meas\n\r");
adc_enable_channel（ADC_CHANNEL_VDD_REF）;
adc_calibrate ();
adc_init（GP_ADC_SE，0，0）;//单端模式下，1V18
adc_enable_channel（ADC_MEAS_TEMP）;
当我 - ）
{
u16ADC = adc_get_sample（）;
如果（u16ADC
}
adc_disable（）;
DBG_PRINT（ “ADC分钟：0X％的x，最大：0X％的x，DIFF％U \ r \ n” 个，u16Min，u16Max，u16Max-u16Min）;
随着50mV的记录的最大值是正确的，其余的都是太低：
ADC ATT 1X，MEAS前CALIB，1000个单MEAS
ADC分钟：0xf，最大：0x3b，DIFF 44
我也尝试了平均10个样本，但结果仍然有~17%的误差在50mV, 140mV有~ 5.5%的误差和550mV 1,7%的误差，最小误差(~1,25%)达到水平~700mV后，误差看起来保持稳定…
提高电压没有帮助，最小/最大样本之间的差异保持不变(并且最高的是正确的)
ADC ATT 1X，MEAS前CALIB，1000个单MEAS
ADC分钟：量0x150，最大：0x17a，DIFF 42
校准后，该范围之间的ADC校准寄存器值变化...
OFFP: 0 x204-0x208
OFFN：0x1f8-0x1FA
ADC的功能没有在数据表中描述，所以我想得到所有的材料，你有它。还有一些寄存器位(GP_ADC_CHOP, GP_ADC_IDYN…)可能会做一些事情，但根据你的参考设计(电池是相当稳定的直流源?)
启用在adc_init的GP_ADC_CHOP（），那么结果是更好的最小/最大差异方面，但现在最大也不是那么接近实际值...
ADC ATT 1X，MEAS前CALIB，1000个单MEAS
ADC分钟：0x158，最大：0x176，DIFF 30
我想这GP_ADC_CHOP应明确使用。灿GP_ADC_I20U＆GP_ADC_IDYN同时启用就是不断VS动态之间的区别？
很抱歉说最大值是正确的，我看了DIFF在为50mV的44dec作为AD转换结果为50mV假设1,18V参考。因此，有没有办法来确定SW“正确”的价值...
我猜我发现了问题的一些部分(最小和最大的差别很大)，有外部电源的噪音。我在测量端增加了电容，解决了这个问题。无论如何仍然有偏移误差，这是一个特性吗?错误看起来是~5%-2%在低端是最高的…
毫伏打印是使用现在下面的公式AVG *一千○二十三分之一千一百八和ADC值是小数转换
72mV（测量值），得到（CHOP_ON）：ADC分钟：65，最大：67，DIFF 2，AVG：66毫伏：76
366mV（测量值），得到（CHOP_ON）：ADC分钟：314，最大：316，DIFF 2，AVG：314毫伏：362
692mV（测量值），得到（CHOP_ON）：ADC分钟：588，最大：590，DIFF 2，AVG：588毫伏：678
835mV（测量值），得到（CHOP_ON）：ADC分钟：706，最大：709，DIFF 3，AVG：707毫伏：815
1066mV（测量值），得到（CHOP_ON）：ADC分钟：903，最大：906，DIFF 3，AVG：905毫伏：1043
我需要以最大速度（约50KHz的）样品，例如我得到1000的样品continuesly，我上无法使用capasitor，因此，偏移smaple对我是巨大的。
谁能告诉我该怎么解决呢？