亲爱的支持，
您能帮我解决以下问题吗？
我使用几乎与Da Smart标签完全相同的H / W设计 - 只有区别在于使用一些额外的GPIO端口。
我编译了确切的参考SDK 3.20.6示例，它在智能标签上运行良好 - 使用Keil + SWD调试。我可以开始调试，然后按“运行”，它像魅力一样工作。
当我切换到我们的电路板时，按下“RUN”按钮后，代码始终卡在以下位置：
而（！ble_deep_sleep_stat_getf（））;
通过避免进入睡眠模式，我的DEV板上的代码正如预期运行。
我困惑的是，在Da智能标签上，即使使用ext_sleep模式，我也可以运行keil调试，但为什么不在我的dev板上？任何技巧？
我知道以下线程，它在睡眠模式下调试不可用，但为什么在DA智能标记上即使使用ext_sleep模式，我也可以运行keil调试？
https：//support.dialog-semicondiondiondum/forums/post/dialog-smartbond-bl ...
非常感谢您的善意，
Uta_lc.
设备：
嗨Uta_lc，
如果您的代码卡与调试功能无关，并且通常您不应该使用睡眠模式运行参考设计，除非您已更改智能标签的代码并在您时启用调试模块在睡眠模式下。您是否尝试过在您的自定义板上运行任何其他SDK示例或参考设计，除了智能标记应用程序之外？如果没有，请尝试。您的设备陷入困境的功能是因为应用程序似乎被卡住，因为它无法转向LP时钟。如果您使用的是XTAL32，请尝试使用DA14580_Config.h文件中的RCX时钟。
谢谢mt_dialog.
谢谢。它是由于外部32k xtal的坏。改变为内部RC，一个使其工作。