你好，
在我们的应用程序中，我们正在使用Pan1740来捕获ECG并将数据传输到Android设备。
Pan1740由电池供电。Systick计时器用于在250 SPS处生成中断，并且在ISR中执行一个ADC读取。
我们在附件中看到的ECG中的某种毛刺（所有数据都在Keil中登录）。我们正在使用SDK 3.10和横向_eval工作空间来执行此操作。
我们使用所有4个ADC引脚验证了毛刺随机观察。
1）问题的原因可能是什么？
2）BLE Tx / Rx供电和ADC电源之间是否存在任何关系，因为只有在存在数据传输时才看到故障。
3）在SDK 5中有一个吞吐量_eval示例的代码吗？
请帮助我们解决这个问题。
谢谢
设备：
嗨bharath，
1＆2）我们没有针对这种行为的任何报告（与ADC的TX / RX相关），您是否能够通过使用实现来复制问题？
3）在SDK5上没有凸起_eval参考设计，该示例仅在SDK3上可用。展示580的流传输功能的唯一可用参考设计是DSP。
谢谢mt_dialog.
嗨mt_dialog，
当我尝试从电阻分频器读取常量2V信号时，ADC中存在3到4位错误。
是否可以在SDK5中使用App_Stream配置文件？
我们难以理解这一原因。
请帮助我们解决这个问题。
谢谢
Bharath.
嗨bharath，
当使用ADC（通常是任何ADC）时，尤其是衰减器，您无法获得设备输出的精确测量，您将需要考虑和补偿代码的一些错误，例如偏移和增益错误，特别是如果您从另一个分压器提供ADC信号，如果您不使用衰减器，您应该看到ADC在没有任何EXRA补偿的情况下进行更准确的测量。如果您在测量中需要更多的准确性，您必须在代码中处理这些错误。
关于它是否可以在SDK 5上使用App_Stream配置文件，我认为我回答了你的另一个帖子https：//support.dialog-semicondiondiondum/forums/post/dialog-smartbond-da ...
谢谢mt_dialog.