你好,
在我们的应用中，我们使用PAN1740来捕获心电图并将数据传输到android设备。
PAN1740由电池供电。Systick定时器用于产生250 sps的中断，并在ISR中执行一次ADC读取。
如附件所示，我们在心电图中观察到某种故障(所有数据都记录在keil中)。我们使用SDK 3.10和throughput_eval work-space来实现这一点。
我们验证它使用所有4 ADC引脚的故障是随机看到的。
问题的原因可能是什么?
2) BLE TX/RX供电和ADC供电电路之间是否有关系，因为只有在数据传输时才会出现故障。
3)在SDK 5中有关于throughput_eval例子的代码吗?
请帮助我们解决这个问题
谢谢你！
设备:
嗨Bharath,
1 & 2)我们没有关于这种行为的任何报告(TX/RX与ADC的相关性)，你们能够通过测量一个稳定的信号来复制这个问题吗?
3)不，在SDK5上没有一个throughput_eval参考设计，这个示例只在SDK3上可用。显示580流功能的唯一参考设计是dsp。
由于MT_dialog
嗨MT_dialog,
我已经观察到有一个3到4位错误在ADC，当我试图读取一个恒定的2V信号从电阻分压器。
可以在sdk5中使用app_stream配置文件吗?
我们很难理解造成这种情况的原因。
请帮助我们解决这个问题。
谢谢
Bharath
嗨Bharath,
当使用ADC(一般任何ADC)特别是在衰减器你无法得到准确的测量你的设备输出的,有一些错误,你将不得不考虑和补偿您的代码,例如抵消和增益误差,特别是如果你提供ADC信号从一个另一个分压器,如果你不使用衰减器，你应该看到ADC正在进行更精确的测量，没有任何额外的补偿。如果需要更精确的度量，就必须注意代码中的这些错误。
关于是否可能在SDK 5上使用app_stream配置文件，我想我已经回答了你的其他帖子https://support.dialog-semiconductor.com/forums/post/dialog-smartbond-da..。
由于MT_dialog