我想知道推荐的ADC配置，用于使用SDK 3.0.8.0进行正确和稳定的直流测量值
基于“UM-B-004 DA14580_581外设DRVERS_V1.4.PDF”和“DA14580_DS_V3.1.PDF”的信息，我的配置当前如下所示：
adc_calibrate()
adc_init（gp_adc_se | gp_adc_chop，adc_polarity_unsigned，0 / * no gp_adc_attn3x * /）
ADC_ENABLE_CHANNEL（ADC_CHANNEL_P00）
adc_get_sample（）
adc_disable（）
查看adc_get_vbat_sample（）它是：
1. GP_ADC_CHOP使用率不是首选，尽管强烈建议在“DA14580_DS_V3.1.PDF”中，而是使用具有相对GP_ADC_SING的两个样本
2.在ADC_INIT（）之后使用20微秒延迟，该延迟与“da14580_ds_v3.1.pdf”中的“表293”中描述的定时特征映射（注意：在ADC_CALIBRATE（）中adc_int（）之后使用相同的20微秒延迟（））））。
1. Is the 20 microseconds delay needed after an adc_init() ?
2. Are/should the necessary delays be controlled via GP_ADC_DELAY_REG and GP_ADC_DELAY2_REG taking in consideration that adc_int() sets GP_ADC_DELAY_EN ?
3. ADC相关寄存器的内部工作有更多信息吗？
设备：
嗨Icujba，如果您不使用衰减，不需要延迟。随着衰减（如果您打算测量电压> 1.2V的情况下），您应该添加一些延迟，以允许内容收取。这应该在4us的范围内。有关ADC的内部工作的更多信息，但这是不可用的宠物。你有一些具体问题吗？
Best regards, RvA
Hi RvA,
感谢你的回复。我将使用“衰减”方案的推荐延迟。
最好的问候，离子
你好，
我真的很简单代码，我没有得到ADC的一致结果（至少4位丢弃4位，所以有效的分辨率是6位，您也在电池中制作），看起来ADC也很相当巨大的偏移错误，校准没有帮助。偏移误差是尤其在较低电压下的主要问题......
我的测试设置真的很简单：External_Power ---> 100K欧姆电阻--->输入引脚（配置为PID_ADC）。代码使用您的示例，因此尚未修改ADC功能（在最后阶段添加了Chop Bit）
if（U16ADC> U16MAX）{U16MAX = U16ADC;}
UINT16 U16ADC = 0U;
uint16 i = 1000U;
uint16 u16min = 0xffffu;
UINT16 U16MAX = 0U;
DBG_PRINT("\n\rADC att 1x, calib before meas, 1000x single meas\n\r");
adc_enable_channel（adc_channel_vdd_ref）;
adc_calibrate();
adc_init（gp_adc_se，0,0）;//单端模式，1V18
adc_enable_channel（adc_meas_temp）;
当我 - ）
{
U16ADC = ADC_GET_SAMPLE（）;
如果（U16ADC
}
adc_disable（）;
dbg_print（“ADC min：0x％x，max：0x％x，diff％u \ r \ n”，u16min，u16max，u16max-u16min）;
凭借50MV录制的最大值是正确的，休息太低：
ADC ATT 1X，CALIB在MEAS之前，1000x单次测量
ADC MIN：0xF，MAX：0x3B，Diff 44
I also tried to average 10 samples but the results has still ~17% error at 50mV, 140mV has ~5,5% error and 550mV 1,7% error, minimum error (~1,25%) is reached at level ~700mV after that error looks to stay stable...
Raising the voltage does not help, the difference between min/max samples stays same (and again the highest ones are correct)
ADC ATT 1X，CALIB在MEAS之前，1000x单次测量
ADC MIN：0x150，MAX：0x17A，Diff 42
ADC校准寄存器值在校准后的范围之间变化......
OFFP: 0x204-0x208
OFFN：0x1f8-0x1fa.
ADC功能不是在描述数据sheet, so I would like to get all material what you had for it. There are also some register bits (GP_ADC_CHOP, GP_ADC_IDYN...) which may do something but according to your reference design (battery is quite stable DC-source?) those are not used...
在ADC_INIT（）中启用GP_ADC_CHOP，那么结果在MIN / MAX差异方面更好，但现在MAX不是那么关闭实际值......
ADC ATT 1X，CALIB在MEAS之前，1000x单次测量
ADC MIN：0x158，MAX：0x176，Diff 30
我猜GP_ADC_CHOP应肯定使用。可以同时启用GP_ADC_I20U和GP_ADC_IDYN常量VS动态之间的区别是多少？
抱歉，关于最大值是正确的，我看过50mv的差异，44dec作为AD转换结果是50mV，假设1,18V参考。所以没有办法确定SW中的“正确”值......
我猜我想出来了some parts of the problem (large difference between min&max), there was noise from external-power. I added capasitor to measurement end which solved that one. How ever there still looks to be offset error, is this a feature? Error looks to be ~5%-2% being highest in lower end...
使用以下公式转换MV打印* 1180/1023和ADC值现在是小数
72MV（测量）给出（CHACH_ON）：ADC MIN：65，MAX：67，Diff 2，AVG：66 MV：76
366MV（测量）给出（CHOP_ON）：ADC MIN：314，MAX：316，Diff 2，AVG：314 MV：362
692MV（测量）给出（CHOP_ON）：ADC MIN：588，MAX：590，Diff 2，AVG：588 MV：678
835MV（测量）给出（CHOP_ON）：ADC MIN：706，MAX：709，Diff 3，AVG：707 MV：815
1066MV（测量）给出（CHACH_ON）：ADC MIN：903，MAX：906，Diff 3，AVG：905 MV：1043
我需要以最大速度（约50kHz）来样，例如我续了1000个样本，我不能使用Capasitor，所以，对我的次要偏移是巨大的。
任何人都可以告诉我如何解决它？